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      什么是LED光譜測量?

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      什么是LED光譜測量?

      發布日期:2019-12-12 作者: 點擊:

      現在大街上隨處可見的LED顯示屏,還有裝飾用的LED彩燈以及LED車燈,處處可見LED燈的身影,LED已經融入到生活中的每一個角落。今年是發光二極管(LED)誕生40周年,但只有到5年前白光LED開發成功后,對LED進行光譜測量才提上日程。


      迄今,白光LED的法向發光強度已達10cd以上,光效已超過25lm/W。由于它具有10萬小時的壽命,微秒級的響應時間,光效已超過白熾燈;并且體積小,結構牢固。所以繼鹵鎢燈、熒光燈之后,它成為第三代照明光源的趨勢已成為必然。目前白光LED的制造途徑主要有三種:(1)利用InGaN/GaN蘭光芯片,結合激發光為黃光的熒光物質YAG復合成白光;(2)利用紅、綠、蘭三基色通過各自比例的調整,復合成白光;(3)在ZnSe單晶基板上形成ZnCdSe薄膜,通電后薄膜發蘭光,它與基板產生連鎖反應發出黃光,復合成白光。


      故各種白光LED離開等能白的色品坐標,即WE(0.3333,0.3333)的差距各不相同,從而對應的色溫、色純度和顯色指數等參數也各不相同,所以對它進行光譜量測量的重要性不言而喻。


      準確測試LED各類光電參數對改善LED的性能作用頗大,其中光譜量的測試基本上有三種方法,一是把測量光用若干塊不同波長的帶通濾光片過濾后到達光探測器,光探測器一般用光電倍增管和硅光電二極管。二是把測量光經衍射光柵分光后到達線陣CCD電荷耦合器件。三是用單色儀分光后進行測量。前面兩種方法主要用于便攜式光譜測試儀對LED進行多參數一次性快速測量,用同一結構配置的硬件測量多個參數必然降低測量精度,后一種方法計量部門運用較多,能得到高精度的測量值,但測量時間較長。對單色LED主要測定其峰值波長和半寬度(FWHM),對白色LED主要測定其相對功率分布,從而推導出其色品坐標,主波長、色溫、色純度和顯色指數等參數,所以是光譜量測量的重點對象。


      2單色儀使用中的一般技術


      (1)光柵的準確對焦:目的是使被測光源的光達到光柵時能充滿光柵,以便減小光通過單色儀后的衰減率。光斑太小使出射光的信號減小,光斑尺寸超過光柵又會使這部分光變成雜散光而降低測量精度。所以入射光的配置必須符合所用單色儀的f/D數,使得與LED匹配的透鏡能使被測光正好臨界地充滿光柵。


      (2)狹縫尺寸的設置:一般使出、入射狹縫等寬度,這時所得信號形狀為等腰三角形,否則將變成梯形甚至更復雜的形狀。狹縫的寬窄應根據被測光的強弱同步調節。狹縫的高度也要相應限制,這只能靠在出、入射狹縫前后放置各種寬度的平行光闌達到,因為單色儀一般并沒有調節狹縫高低的功能。狹縫尺寸過大會降低光譜量的純度,當儀器的最小實際帶寬不大于設置帶寬的1.2倍時,將得到最小的光譜帶寬。


      (3)波長鼓的使用:首先,由于氣溫變化造成波長尺的熱脹冷縮,必須在紫外,可見和紅外波段定期予以校正,校正時常用發射波長的低壓汞燈、氘燈,見表1和表2所示[2]。


      表1 可采用的低壓汞燈的發射波長 nm


       


      image.png

       


      之所以在表中列出紫外和紅外波長是考慮到LED在軍用夜視儀和電器遙控器中的應用。其次,變換波長時必須由大到小或由小到大順序進行,不可來回反復,否則會造成波長示值不準確。


      3單色儀使用中易被忽略的問題


      (1)狹縫散射函數[3]:單色儀從本質上講,是波長連續可變的濾波器。根據濾波理論,一個濾波器的輸出信號是輸入信號和濾波器傳遞函數兩者的卷積。故濾波器輸出端的信號,一定要去除卷積,即解出卷積方程,才能得到真實信號。因為單色儀的儀器函數不是一個δ函數,單色儀出射的量不會具有100%的純度。所以用單色儀測量一個光譜量,若不經過狹縫函數的修正,必然會使光譜形狀發生畸變,俗稱儀器加寬,具體說就是譜線加寬和分辯率降低。為了簡化狹縫散射函數的確定,一般情況下應把單色儀的入、出射狹縫設置成等寬度,因這時得到的狹縫函數形式上最簡單。


      (2)光譜分辯率:如上所說,經過單色儀分光后的值是單色儀的帶寬和LED實際發出光譜的卷積。倘若LED的光譜帶寬大于單色儀的光譜分辯率,則被測光譜不會因帶寬引起變化。相反地,一個窄帶的單色LED在通過低光譜分辯率的單色儀時光譜會引發變化。表3顯示了一個半寬度(FWHM)約20nm的紅色LED通過設置成不同帶寬的單色儀時其光譜分辯率對測量結果的影響。


       


      image.png


      表3 不同單色儀狹縫對一支紅色LED測量的影響[4]


      LED光譜測量的操作技術解析


      由表可見,隨著狹縫的增大,其輸出波形的帶寬增加,主導波長和質心波長順序減小,而輸出波形的半寬度順序增加。所以狹縫的增加會使被測光的單色性變差。由表3還可知,在測量精度范圍內當質心波長幾乎不變的同時峰值波長的半寬度(FWHM)卻有顯著的增加,結果導致主導波長漂移近1nm。一個數學模型以較高的仿真度顯示了LED的光譜寬度與色品坐標及主導波長間的關系[5]。


      (3)光學動態范圍:它的大小取決于單色儀光學器件和配套電子儀器的質量好壞。大的動態范圍有助于提高測量精度以及色品三刺激值的純度,表4表示了一支紅光LED在各種動態范圍下色度測量值的變化。


       

      image.png


      表4 一支紅色LED動態范圍變化時的測試結果[4]


      動態范圍x色坐標y色坐標主導波長(nm)刺激值純度


      10E20.6750.282648.187%


      10E2.50.7010.286637.096%


      10E3.50.7140.287634.3100%


      由表可見,隨著動態范圍的減小,色品刺激值的純度也顯著減小,主導波長也向長波方向漂移,并且色品坐標也減小了。所以對LED進行色度測量時,顏色飽和度是否達到100%是測量精度的一個重要判據。動態范圍的減小與引入測量噪聲的大小成正比。此外單色儀與CCD陣列器件的光譜儀相比,由于后者的動態范圍小,致使測量所得的光譜波峰削減13%之多[4]。


      (4)雜散光:在進行光譜測量時,雜散光是影響測量精度的主要原因,即使采取了許多措施,也只能減少雜散光而不能完全排除它,尤其是在可見光譜的短波段,這種影響更加顯著。因為在蘭光區白光LED的光通量只占10%。再者,由于所測信號和雜散光混在一起構成測量信號,所以在400nm波長點,0.5%的雜散光就會引起5%的定標誤差,對白光LED而言,由于其發光光譜與普朗克發射體的偏差較大,所以更容易產生大的測量誤差,因為測量的計算程序通常只能根據普朗克黑體或灰體為基礎編制。所以蘭色LED相對窄的波峰相對于熒光物質寬的發射光譜應設計一個合適的權重,以提高色度坐標測量的正確性。表5列出了一支白光LED的測量結果。


      表5 三臺光譜儀對白光LED色坐標的測量結果[4]


      LED光譜測量的操作技術解析


      這些值是在一個傳統的單色儀和兩個多通道快速測量光譜儀上做的,后者的光學動態范圍較小。由表可見,由于前者的雜散光屏蔽設置較好,所以,測量結果的準確性較高,其誤差程度在0.3%至2%之間;基于色品坐標的構成特點,y色坐標比x色坐標的誤差要大1倍。由此還可看出,單就雜散光影響而言,當今商品化的多通道快速測量儀的儀器級別比C級還要低1倍以上[2]。




      白光LED合成的空間輻射的光譜測量必須考慮到多重因素的影響,不準確的分光測量不但會導致峰值波長及其半寬度的測量誤差,還會導致大的色度測量誤差。


      所以要求光譜測量儀器的光譜分辯率應小于0.5nm,其對雜散光的屏蔽水平應小于測量信號值的3個量級?,F在的LED燈或許會有一些問題,但是我們相信隨著科學技術的快速發展,在我們科研人員的努力下,這些問題終將唄解決,未來的LED一定是高效率,高質量的。


      本文網址:http://www.greatwall-motor.com/news/540.html

      關鍵詞:LED,光譜測量,LED測試技術

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